由于直流線路的靜電吸附作用，直流線路的污穢水平要比同樣條件下的交流線路的高，所需的絕緣子片數(shù)也比交流的多，其絕緣水平主要決定于絕緣子串的污穢放電特性。因此，目前在選擇絕緣子片數(shù)時主要有兩種方法：1.按照絕緣子人工污穢試驗(yàn)采用絕緣子污耐受法，測量不同鹽密下絕緣子的污閃電壓，從而確定絕緣子的片數(shù)。2. 按照運(yùn)行經(jīng)驗(yàn)采用爬電比距法，一般地區(qū)直流線路的爬電比距為交流線路的兩倍。兩種方法中，前者直觀，但需要大量的試驗(yàn)和檢測數(shù)據(jù)，且試驗(yàn)檢測的結(jié)果分散性大。后者簡便易行，但精確性較差。實(shí)際運(yùn)用中，通常將兩者結(jié)合進(jìn)行。